產品介紹

  • CV-3200/4500

CV-3200/4500




l 藉由上下面连续测量机能,即可简易地测量上下面。

l 搭载测定力可变机能。

l 能同步进行校正作业的简便设计。

l 最高等级的指示精度。


机械能力

CV-3200S4

CV-3200H4

CV-3200W4

CV-4500S4

CV-4500H4

CV-4500W4

测定范围

X 轴

100mm

Z1 轴 ( 检出部 )

60mm(水平状态 ±30mm)

Z2 轴 ( 立柱 ) 移动范围

300mm

500mm

检出器 (Z1 轴:检出部)

测长装置

圆弧光学尺

分辨率

CV-3200系列:0.04 µm、CV-4500系列:0.02 µm

测针上下作动

圆弧运动

测定方向

拉、压两种方向

测定面方向

CV-3200系列:上下两种方向 ( 单独测定)、CV-4500系列:上下两种方向 ( 可上下面连续测定)

测定力

CV-3200测定力系列:30mN(依重量调整)、CV-4500系列:10,20,30,40,50mN(用软件作切换)

测针追踪角度

上升 77°、下降 83°(使用标准附属品的片角测针时※1。依其表面性质而定。)

驱动部

测长装置

X 轴

X轴 分离式线性规

Z2 轴(立柱)

ABS 光学尺

分辨率

X 轴

0.05 µm

Z2 轴(立柱)

1µm

驱动速度

X 轴

0 ∼ 80mm/s 及手动操作

Z2 轴(立柱)

0 ∼ 30mm/s 及手动操作

测定速度

X 轴

0.02 ∼ 5mm/s

真直度 ※2

X 轴

0.8 µm/100mm

倾斜角度

X 轴

±45°

指示精度 20

CV-3200 系列

X 轴

±(0.8 + 0.01L)µm L =驱动长度 (mm) 广范围:1.8 µm/100mm 狭范围:1.05 µm/ 25mm

Z1轴(检出部)

±(1.6+|2H|/100)µm H= 从水平位置测定的高度(mm)

CV-4500 系列

X 轴

±(0.8 + 0.01L)µm L =驱动长度 (mm) 广范围:1.8 µm/100mm 狭范围:1.05 µm/ 25mm

Z1轴(检出部)

±(0.8+|2H|/100)µm H= Z1 轴(检出部)从水平位置测定的高度(mm)


机械能力

CV-3200S8

CV-3200H8

CV-3200W8

CV-4500S8

CV-4500H8

CV-4500W8

测定范围

X 轴

200mm

Z1 轴 ( 检出部 )

60mm(水平状态 ±30mm)

Z2 轴 ( 立柱 ) 移动范围

300mm

500mm

检出器 (Z1 轴:检出部)

测长装置

圆弧光学尺

分辨率

CV-3200系列:0.04 µm、CV-4500系列:0.02 µm

测针上下作动

圆弧运动

测定方向

拉、压两种方向

测定面方向

CV-3200系列:上下两种方向 ( 单独测定)、CV-4500系列:上下两种方向 ( 可上下面连续测定)

测定力

CV-3200测定力系列:30mN(依重量调整)、CV-4500系列:10,20,30,40,50mN(用软件作切换)

测针追踪角度

上升 77°、下降 83°(使用标准附属品的片角测针时※1。依其表面性质而定。)

驱动部

测长装置

X 轴

X轴 分离式线性规

Z2 轴(立柱)

ABS 光学尺

分辨率

X 轴

0.05 µm

Z2 轴(立柱)

1µm

驱动速度

X 轴

0 ∼ 80mm/s 及手动操作

Z2 轴(立柱)

0 ∼ 30mm/s 及手动操作

测定速度

X 轴

0.02 ∼ 5mm/s

真直度 ※2

X 轴

2 µm/200mm

倾斜角度

X 轴

±45°

指示精度 20

CV-3200 系列

X 轴

±(0.8 + 0.02L)µm L =驱动长度 (mm) 广范围:4.8 µm/200mm 狭范围:1.3 µm/ 25mm

Z1轴(检出部)

±(1.6+|2H|/100)µm H= 从水平位置测定的高度(mm)

CV-4500 系列

X 轴

±(0.8 + 0.02L)µm L =驱动长度 (mm) 广范围:4.8 µm/200mm 狭范围:1.3 µm/ 25mm

Z1轴(检出部)

±(0.8+|2H|/100)µm H= Z1 轴(检出部)从水平位置测定的高度(mm)

※1:SPH-71(No.354884)

※2:X轴水平姿势时

※3:本体的基本材质为花岗岩


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